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    半導體制冷差示掃描量熱儀:熱分析的得力助手
    更新時(shí)間:2025-03-31   點(diǎn)擊次數:229次

    在材料科學(xué)、化學(xué)、生物學(xué)和藥物學(xué)等眾多領(lǐng)域,深入探究物質(zhì)的熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)性質(zhì)至關(guān)重要。半導體制冷差示掃描量熱儀(DSC)作為一款關(guān)鍵的分析儀器,在這一過(guò)程中發(fā)揮著(zhù)不可替代的作用。

    差示掃描量熱儀新圖.jpg

    上海和晟 HS-DSC-101A 半導體制冷差示掃描量熱儀

    差示掃描量熱儀的工作原理基于差示掃描量熱法。在程序控制溫度的條件下,儀器會(huì )精準測量輸入到試樣和參比物的功率差與溫度的關(guān)系。它記錄下樣品吸熱或放熱的速率,也就是熱流率,并以熱流率為縱坐標,以溫度或時(shí)間為橫坐標,生成 DSC 曲線(xiàn)??蒲腥藛T通過(guò)對這條曲線(xiàn)進(jìn)行細致分析,能夠測定多種熱力學(xué)和動(dòng)力學(xué)參數,例如比熱容、反應熱、轉變熱、相圖、反應速率、結晶速率、高聚物結晶度以及樣品純度等。

    半導體制冷技術(shù)的運用,為DSC帶來(lái)了優(yōu)勢。相較于傳統制冷方式,半導體制冷具有降溫速度快的特點(diǎn),能迅速達到所需低溫環(huán)境,極大提高實(shí)驗效率。而且,它可實(shí)現多段溫度設置,控溫精度高,能為實(shí)驗提供穩定、精準的溫度條件,確保實(shí)驗結果的準確性與可靠性。

    半導體制冷差示掃描量熱儀的應用范圍極為廣泛。在高分子材料領(lǐng)域,可用于研究其固化反應溫度和熱效應、結晶與熔融溫度及其熱效應,以及玻璃化轉變溫度等;在藥物研發(fā)中,能助力分析藥物的多晶型現象,了解藥物在不同溫度下的狀態(tài)變化,為藥物的質(zhì)量控制和穩定性研究提供關(guān)鍵數據;在食品工業(yè),可用于分析油脂等食品的固 / 液相比例,監測食品在加工和儲存過(guò)程中的熱變化,保障食品品質(zhì)。




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